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X-Ray检测BGA空焊

文章出处:托普科责任编辑:topsmt人气:61-发表时间:2024-03-11 15:00:31【


X-Ray,即X射线光机,与我们日常所见的医院体检用胸透机类似,均利用X射线进行成像。这种技术能够穿透物质,展示其内部结构,从而用于检测和分析。然而,X射线具有辐射性,因此其使用通常是在离线状态下进行,且操作员不能长时间逗留在此类设备附近。

BGA,即球列阵封装,是一种常见的集成电路封装形式。由于其结构的特殊性,普通的肉眼或AOI(自动光学检测)设备难以观察到其底部的焊接品质。因此,为了确保BGA焊接的质量,必须采用X-Ray检测技术。

当使用一般的2D X-Ray设备检测BGA时,我们可以观察到是否存在短路、少锡和气泡等问题。然而,对于空焊的检测,2D X-Ray的效果并不理想。因为空焊在X-Ray影像中通常表现为锡球的形状变化,而每颗BGA的锡球在视觉上都是近似的圆形,所以难以准确判断是否存在空焊。近年来,虽然有3D X-Ray技术的出现,能够提供更为准确的检测结果,但其高昂的成本限制了其广泛应用。

那么,如何利用传统的2D X-Ray技术来判断BGA是否存在空焊呢?一种有效的方法是通过观察锡球的大小变化。在正常情况下,BGA的锡球大小应该是一致的。如果某些锡球存在空焊,那么这些锡球在经过压缩后,其大小可能会变得比正常锡球更大。这是因为空焊的锡球没有受到足够的焊锡压力,导致锡球在压缩后未能形成正常的形状。

另外,如果锡球内部存在气泡,也可能导致空焊的形成。气泡在X-Ray影像中会表现为一种特殊的形态,通过观察这些形态,我们可以判断锡球是否存在气泡,从而推断是否存在空焊。

X-Ray检测是确保BGA焊接质量的重要手段。尽管2D X-Ray在检测空焊方面存在一定的局限性,但通过仔细观察和分析,我们仍然可以有效地检测出BGA的空焊问题。


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